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por Ecole d'eté sur la microanalyse et microscopie electronique a balayage Saint-Martin-d'Heres,FR 1978.
por Koda, Shigeyasu [comp.].
por Gomer, Robert.
por Cosslett, Vernon Ellis | Nixon, W. C [colab].
por Symposium on scanning electron microscope 2 Chicago,US 1969.
por Symposium on scanning electron microscope 4 Chicago,US 1971.
por Symposium on scanning electron microscope 5 Chicago,US 1972.
por Symposium on scanning electron microscope 6 Chicago,US 1973.
por Thomas, Gareth | Washburn, Jack | International materials conference Berkeley, Calif.,US 1961.
por Stuhlman, Otto.
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