Defect analysis in elctron microscopy
Por: Loretto, M. H
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Colaborador(es): Smallman, R. E.
Tipo de material: 
LibroEditor: Londres: Chapman and Hall, 1975Descripción: ix, 134 p.: graf., il., fot.ISBN: 0412137607.Tema(s): MICROSCOPIA ELECTRONICA | ELECTRON MICROSCOPY | DEFECTOS | DIFRACCION ELECTRONICA | DEFECTOS CRISTALINOS | TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY | MICROSCOPIA ELECTRONICA POR TRANSMISION | DISLOCATIONS | KIKUCHI LINES | LINEAS DE KIKUCHI
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Colección General
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Centro de Información Eduardo Savino
Centro Atómico Constituyentes |
548.4 L869 (Navegar estantería) | Disponible | 24431 |
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