Multiple-beam interferometry of surfaces and films.
Por: Tolansky, Samuel. [from old catalog]
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Tipo de material: 
LibroEditor: Oxford : Clarendon Press, 1948Descripción: viii, 187 p. 23 cm.
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Colección General
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Centro de Información Eduardo Savino
Centro Atómico Constituyentes |
535.417 T574 (Navegar estantería) | Disponible | 4035 |
índice y bibliografía al final del volúmen.
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